Внутренняя и внешняя эффективность СИД
Сместим теперь центр нашего внимания со спектрального распределения Rspon(hv) излученной энергии на полную интенсивность Rspon, соответствующую оценке интеграла (13.6) по полной зонной структуре полупроводника. Такое интегрирование уже было проведено в разделе 7.5. Сейчас же мы уже способны показать, что скорость излучательной рекомбинации в случае, когда концентрации носителей далеки от вырождения (как это имеет место в случае СИД), дается (смотрите (7.62) и (7.65) соотношением:
**оп=Вп. пк= (13.11)
Rad
Здесь: frad есть время жизни излучательной рекомбинации, а В — коэффициент бимолекулярной рекомбинации, связанный с излучательным временем rR в соответствии с (7.62). В этом случае полный поток фотонов Ф, генерируемый объемом перехода V принимает особенно простой вид:
Ф = Л*» -77 = - P-d (13.12) |
V_ п
S
Введем теперь коэффициент г)., определяемый соотношением:
П, = — = ■:---------- ;— (13.13)
^тад 1 + ^тад / ^пг
Внутренняя квантовая эффективность
Этот коэффициент г), есть внутренняя квантовая эффективность СИД. Он определяет процентную долю электронно-дырочных пар, способных освободить свою запасенную энергию в виде излучаемых фотонов сразу после акта рекомбинации. С учетом (13.3) мы видим, что поток излучаемых фотонов определяется соотношением:
Ф = Т],~ (13.14)
Я
Это последнее уравнение ясно показывает ту роль, которую играет внутренняя квантовая эффективность в том, что касается эффективного преобразования потока носителей //<7 в поток фотонов Ф.
Несмотря на это далеко не весь свет, излучаемый р—л-переходом, способен покинуть полупроводник. В действительности, электролюминесцентное излучение является не направленным, а характеризуется ламбертовской диаграммой направленности. Рисунок 13.6 иллюстрирует все оптические механизмы, дающие вклад в уменьшение полной эффективности СИД:
• 0,-лучи (т. е. лучи, составляющие малый угол с вектором нормали к поверхности) проходят через полупроводниковый материал, который поглощает определенную долю излучаемого света. Очевидно, что это поглощение может быть уменьшено в гетеропереходе за счет соответствующего выбора для п - и /^-областей, образующих гетеропереход полупроводников с шириной запрещенной зоны, превышающей энергию фотонов, генерируемых структурой. Тем не менее, все равно небольшая доля малоугловых лучей излучения будет испытывать частичное отражение от границы раздела полупроводник/воздушная среда. Доля п6.е1 перпендикулярно падающего света, пропускаемого границей раздела (т. е. диэлектрическая эффективность), дается уравнением Френеля:
= 1 - |
(13.15) |
(”« ~1У _ 4п-,<
(«*+!)’ (Лзс +
Здесь пж есть коэффициент оптического преломления полупроводникового материала. В случае ваАз (пж = 3,6) эффективность пропускания составляет 0,7. Эта эффективность возрастает по мере уменьшения оптического коэффициента преломления полупроводника (т. е. в случае диодов, излучающих на более коротких длинах волн). Это, например, было подтверждено в случае светоизлучающих диодов на основе Оа1Ч, излучающих в голубой области спектра, для кото - рых пк = 2,3 и Г)лм = 0,85.
• 02-лучи, излучаемые за пределами конуса, задаваемого критическим углом 0, отражаются полностью. Если бы процесс на этом бы и закончился, то эффективность СИД была бы катастрофически мала. В рассматриваемом случае доля излучаемого света составила бы только 4%! В действительности же ситуацию улучшает то, что известно как эффект рециклирования фотонов. Часть фотонов, отраженных обратно, поглощается с образованием электронно-дырочных пар и, как следствие, имеется некая вероятность, что они смогут пройти через границу раздела полупроводник/воздух после повторного излучения. Комбинация всех этих процессов определяет эффективность пропускания т/г, которая, будучи умножена на внутреннюю квантовую эффективность, дает долю электронно-дырочных пар, преобразуемых в фотоны, способные покинуть СИД. Внешняя мощность излучения РеМ в этом случае дается произведением вышедшего из СИД фотонного потока на энергию излученных фотонов:
(13.16)
Рис. 13.6. Лучи, составляющие угол вх относительно к нормам и поверхности СИД, испытывают частичное френелевское отражение таким образом, что при больших углах в2 имеет место полное отражение. |
Здесь: //ext есть внешняя квантовая эффективность, определяемая как rjtxx = г](г}.. В практике принято использовать такую величину как энергетическую отдачу 91 (Вт А-1) для СИД, определяемую как отношение плотности мощности излучения и плотности тока прямого смещения /[26], т. е. 91 = Pext/J-
(13.17)
Энергетическая отдача СИД (Вт А-1) на определенной длине волны
Теперь мы можем поставить вопрос об энергетической эффективности элект- ролюминесцентного диода. В том случае, когда последовательное сопротивление мало, прямое напряжение смещения, необходимое для получения эмиссии, будет связано с шириной запрещенной зоны, т. е. hv/q. В этом случае электрическая мощность, прикладываемая к диоду, составляет /х hv/q. Уравнение (13.16) дает нам энергетическую эффективность диода PtxJ(J х hv/q) или ~77ext* Таким образом энергетическая эффективность тесно связана с внешней квантовой эффективностью //ext (в пределах учета влияния последовательного сопротивления), т. е. в пределах порядка 20%. Эту величину можно сравнить с энергетической эффективностью лампы накаливания в видимой области спектра на уровне 1%, в которой остальная часть энергии (99%) рассеивается в виде тепла.
Примеры-------------------------------------------------------------------------------------------------------
1. СИД на основе GaAs/Al0 25Ga0 75As излучает на пиковой длине волны 0,87 мкм. Его внутренняя квантовая эффективность составляет 50%, а диэлектрическая эффективность равна 20%. Таким образом энергетическая отдача СИД составляет:
91 = 0,5x0,2x1,24 мкм /0,87 мкм = 0,14 ВтА"1
В предположении тока накачки 20 мА мощность оптического излучения составит 2,8 мВт.
2. Диод на основе InGaN/GaN излучает на пиковой длине волны 0,4 мкм. Внутренняя квантовая эффективность составляет 50% в то время, как диэлектрическая эффективность составляет 40% (коэффициент оптического преломления ваЫ составляет 2,3). В этом случае энергетическая отдача диода составляет:
91 = 0,5 х 0,4 х 1,24 мкм / 0,4 мкм = 0,62 ВтА 1
При токе накачки 20 мА внешняя мощность излучения СИД составит 12,4 мВт, что явно больше, чем в случае СИД на основе ОаАБ/АЮаАБ*.
3. Коэффициент бимолекулярной рекомбинации В для ваАБ приведен в таблице 7.1 раздела 7.5 (В = 7,2 х 10"10 см3 с-1). В предположении, что уровень легирования гетероструктуры составляет = 2 х 1017 см-3 постоянная времени излучатель - ной рекомбинации /гас1, определяемое (7,65), составит = 1 /ВМ0 =7 не. Предполагая, что безызлучательное время жизни составляет 5 не, находим, что внутренняя квантовая эффективность в рассматриваемом случае составит 42%.