Оптоэлектроника

Порог прозрачности

Рассмотрим р-п-диод с одиночной квантовой ямой (смотрите рис. 13.19). При прямом смещении этого диода инжектированные носители аккумулируются в кван­товой яме. Концентрация носителей на единицу площади ns может быть получена по аналогии с (13.13), т. е.:

Ns = ps= ^2- (13.48)

Я

При достаточно большом токе мы получаем инверсию заселенности, что при­водит к прозрачности квантовой ямы (смотрите рис. 13.20). В окрестности прозрач­ности квазиуровни Ферми начинают проникать в подзоны. При этом в процесс вовлечены только подзоны с п =т = 1, при этом усиление может быть записано просто в виде:

Y(hv)= a1Dfe(hv)- fy(hv)e{hv - Eg-et - hht) (13.49)

Оптическое усиление вследствие первого перехода е1 - hh.

~Fn

QV

Fp

Рис. 13.19. Прямо смещенный р-п-диод с одиночной квантовой ямой.

Порог прозрачности

Порог прозрачности

Рис. 13.20. По мере того, как квантовые ямы заполняются электронно-дырочными парами, квазиуровни Ферми поднимаются внутри подзон. Как только энер­гетический зазор между двумя квазиуровнями Ферми превысит ширину запрещенной зоны, фотоны, удовлетворяющие условию Бернара—Дюрра - фура, начинают усиливаться: зонная диаграмма (а), подзонная структура (б), соответствующие распределения Ферми—Дирака (в) и кривая усиле­ния в квантовой яме (г).

Понятно, что эффекты уширения могут быть учтены в виде свертки с использо­ванием функции Лоренца:

П. = ]ргВ..(Я)/с'(Е)М

", = }ро,,(£)[! - Л(Е)]*Е

Мы увидим, что концентрации прозрачности и порога могут быть выражены в виде произведения этих двумерных критических концентраций на коэффициент, близкий к 1 (как правило, в интервале от 1 до 5).

Такой метод расчета усиления заключается в следующем: при заданной плот­ности тока / мы находим концентрацию носителей, определяемую (13.48), затем определяем квазиуровни Ферми в соответствии с (13.53) и, наконец, с помощью (13.49) и функций Ферми (13.45) находим усиление. Рисунок 13.21 демонстрирует кривую усиления (13.48) в функции энергии фотонов при возрастающей концен­трации носителей. Отметим резкое увеличение усиления при ку > Е + е{ + ккх. Такой характер является более резким по сравнению со случаем регулярного гете­роперехода и он связан со ступенчатым профилем плотности состояний в двумер­ной структуре (в противоположность зависимости ^Е, проявляющейся в трехмер­ных структурах). Таким образом, максимальное усиление утйХ достигается, когда

Ку = Е + е, + /*/*., т. е.:

G 1 1

E. - e

Пс = In

1 + exp

KT

R hh{ - E Fv kT

In

1 + exp

MckT лЛ2

"с = PlD. ekT =

О кт - mhhkT

H2D. hhn'i —

Tltl

Уравнения (13.53) и (13.45) позволяют простым образом связать величину функции Ферми с концентрацией носителей п:

1

1 6 1 1 + exp[(Јft - Et - ех)/кТ] f'(E>+e'}

(13.56а)

1

Я, = р™екТ ~u^+~u)du = АаД In

(13.52)

1 +

1

”s = PlV. e J -

F л. p 1

(13.51)

D E

L, 1 + exp [(f - Ef )/ kT ]

Эти выражения могут быть рассчитаны точно, если вспомнить, что р2В и р2В ш есть константы, определяемые (13.41). Таким образом, для электронов (13.50) записы­вается в виде:

 

Порог прозрачности

Здесь мы предположили, что энергия у потолка валентной зоны равна нулю. При использовании обозначений (Е — Efc) и exp (Eg + ех — Ер)/кТ = ис это последнее выражение принимает вид:

 

Порог прозрачности

Так, что:

 

Порог прозрачности

(13.53)

 

Здесь пс и пу есть двумерные критические концентрации, определяемые соотноше­ниями:

 

Порог прозрачности

(13.54)

 

Порог прозрачности

Утях = «2D Ifc (hv = Es+e,+ hht)- /; (hv = Et + e, + hhx )J

 

(13.55)

 

Порог прозрачности

Аналогичным образом:

 

Порог прозрачности

Рис. 13.21. Изменение кривой усиления для квантово-размерного лазера при возрас­тающем уровне накачки. Пунктирные кривые показывают величну усиле­ния при нулевой температуре. Жирная (слабая) линии соответствуют силь­ным (слабым) уровням накачки.

Г - = «20 (1 - е-"'/л' - е(13.57)

Максимальное усиление квантовой ямы в функции концентрации носителей (см "1)

Здесь: Яс}> (= ткк/т) есть отношение эффективных масс носителей в зоне проводи­мости и валентной зоне. Рисунок 13.22 демонстрирует изменение максимального усиления в функции приведенной поверхностной концентрации п5/пс при Я = 6,8 (для СаАв) и Я = 1. Мы видим, что усиление быстро возрастает, как только дости­гается условие прозрачности, но оно быстро насыщается. Это происходит из-за двумерного характера состояний. Из (13.57) следует, что порог прозрачности дос­тигается, как только максимальное усиление становится положительным, т. е. ког­да достигается порог прозрачности п1г:

Е-п«/пе + е= ! (13.58)

Порог прозрачности

Рис. 13.22. Нормированное (по отношению к поглощению аю) усиление в функции нормированной (по отношению к двумерной критической концентрации носителей пс) поверхностной концентрации носителей.

При Ясу = 1 мы имеем п1г = пс 1п(2). Ток прозрачности всегда связан с пс через численный коэффициент, близкий к 1. Это объясняет важность концепции двумер­ной критической концентрации носителей пс. Рисунок 13.22 демонстрирует условие прозрачности для различных значений Ясу. Отметим важность четкого согласования эффективных масс носителей в зоне проводимости и валентной зоне. Это и являет­ся одной из причин мотивации выращивать напряженные лазерные структуры (мы исследуем эти структуры в дополнении 13.Б).

Порог прозрачностиСледует отметить, что в литературе изменение максимального усиления утах в функции концентрации носителей часто принимается в виде логарифмической за­висимости:

(13.59)

Здесь константа у0 зависит только от отношения эффективных масс Ясу и получает­ся процедурой подгонки (смотрите ниже). Эта последняя формула приводит к ха­рактеру поведения, близкому к предсказываемому формулой (13.57) для величин п, которые приближаются к порогу прозрачности. Это уравнение обладает тем пре­имуществом, что оно простым образом вводит порог прозрачности в формулу уси­ления. Заметьте отличие от подобного, но линейного соотношения (13.21) для трех­мерных лазерных диодов.

Пример----------------------------------------------------------------------------------------------------------

1. Используем следующую программу МАНЕМАТ1СА для подтверждения эквива­лентности (13.57) и (13.59):

Т=1-Ехр[-х] - Ехр[-х/Я]

13=6.8

Р1оМ =Р1оЩ, {х, .5,5} ]

ПпсИЗоо^ =0, {х, 1}] х0=х/.%

Рк*2=Рк*[0.48*д,{х,.5,5}]

8Иол/[р1о11,р1о12]

Рисунок 13.23 дает сравнение этих двух выражений. С использованием проце­дуры подгонки мы находим, что у0 = 0,48а2В.

2. В случае ваАв плотности двумерных состояний есть:

Рю. е = тс! лЬ1 - 2,8 х 1013 см"2 эВ-1 Аалл = Щи/лЬ2 = 1,9 хЮ14 см2 эВ'1

Критическая двумерная концентрация носителей в зоне проводимости есть пс = Рю или 2,8 х 1013 см~2 эВ1 х 0,0259 эВ =7,25 х 1011 см-2. Рисунок 13.22 показывает, что в GaAs ntr= 1,6 пс = 1,6 х 10 см-2. В квантовой яме толщиной 100 Е это соответствует пороговой концентрации прозрачности 1,16 х 10 см-3. Этот ре­зультат очень близок к тому, который получается для объемного материала. В дей­ствительности преимущество использования квантовых ям заключается не в умень­шении пороговой концентрации носителей, а скорее в уменьшении плотности тока прозрачности и, следовательно, в уменьшении пороговой плотности тока.

В действительности кривая усиления квантово-размерного лазера очень слож­на. По мере того, как в квантовых ямах увеличиваются концентрации носителей, электроны и дырки начинают заселять все более высоко лежащие энергетические состояния в подзонах, что приводит сложным переходам: сначала к е— кк^перехо­дам, затем к е2-кк2-переходам и т. д. Рисунок 13.24 показывает результаты расчета, учитывающего все эти переходы.

Порог прозрачности

Энергия (мэВ)

Рис. 13.24. Модовое усиление (т. е. произведение усиления на коэффициент ограни­чения Г) для квантово-размерного лазера при двух различных значениях концентрации носителей. В условиях более высоких уровней инжекции тока могут наблюдаться как так и е2-кк2-переходы (С разрешения

А. РПу@ТНАЬЕ8)

Оптоэлектроника

Клемма WGn: надежное соединение проводов и кабелей

В современном строительстве и электротехнике важным аспектом является надежное и качественное соединение проводов и кабелей. Клемма соединительная WGn представляет собой идеальное решение для создания прочных и устойчивых соединений, обеспечивая безопасность …

Приобретаем- купить осциллограф, тепловизоры, источники питания

Тепловизионные камеры. Тепловизоры testo - полупроводниковые приборы, наделённые возможностью наблюдать тепловое либо световое излучение. Тепловизор flir на собственном мониторе изображает оранжевыми, красными и желтыми цветами объекты, источающие тепло, но прохладные …

Конкуренция мод: перекрестные модуляторы

В дополнении 11.Д мы видели, что вблизи порога полупроводниковый лазер может генерировать в многомодовом режиме несмотря на то. что усиливающая среда яв­ляется однородной. При достаточно сильном возбуждении настолько выше порога, …

Как с нами связаться:

Украина:
г.Александрия
тел./факс +38 05235  77193 Бухгалтерия

+38 050 457 13 30 — Рашид - продажи новинок
e-mail: msd@msd.com.ua
Схема проезда к производственному офису:
Схема проезда к МСД

Партнеры МСД

Контакты для заказов оборудования:

Внимание! На этом сайте большинство материалов - техническая литература в помощь предпринимателю. Так же большинство производственного оборудования сегодня не актуально. Уточнить можно по почте: Эл. почта: msd@msd.com.ua

+38 050 512 1194 Александр
- телефон для консультаций и заказов спец.оборудования, дробилок, уловителей, дражираторов, гереторных насосов и инженерных решений.