Электролюминесценция
При появлении избыточных носителей в области перехода, они распределяются по зоне проводимости и валентной зоне, занимая все более высокие энергетические уровни (смотрите рис. 13.3). При использовании модели с единственной валентной подзоной распределения носителей могут быть записаны с использованием квазиуровней Ферми (смотрите раздел 7.6) ЕРс (для электронов в зоне проводимости) и Е (в валентной зоне):
П Ж |
1/2 |
Ег + кТЕ
(13.4)
-
N.. |
Еу кТР|/2
Здесь Е1/2 есть величина, обратная интегралу Ферми—Дирака Е1/2, определяемому
Формулой:
-1/2
Дх |
(13.5)
Как это уже обсуждалось в разделе 7.4, это отклонение от равновесия, описываемое квазиуровнями Ферми для электронов и дырок, вызывает усиление спонтанной эмиссиии со спектральным распределением скорости К5роп(Ьу) в единицу времени в единичном объеме и энергетическом интервале (для фотонов с энергией Иу), описываемым (7.47):
Рис. 13.3. Оптические переходы в полупроводнике являются вертикальными (т. е. с сохранением к) по энергии. Состояния Ес(Иу) и Еу{Иу) соединены друг с другом оптическими переходами с участием фотонов с энергией Л к СВ-зона проводимости, УВ-валентная зона.
(13.6) |
Л*ро„ (М= — (л V V; (л V X? - л(М]
Для величин, появляющихся в этом выражения мы еще раз напоминаем их определения, приведенные в главе 6:
• гя есть спонтанное излучательное время жизни в излучающем материале, которое можно предполагать относительно не зависящим от энергии излучаемых фотонов. Эта величина является характеристикой данного материала, и она зависит от физических параметров этого материала (эффективных масс носителей, матричных элементов Кейна и т. д.), как это описывается (7.37б).
• /?.(/* V) есть комбинированная плотность состояний (7.19). Этот параметр учитывает число состояний, удовлетворяющих требованиям сохранения энергии Ну = Ес(к) — Еу(к) и квазиимпульса (постоянное значение к) для переходов между состояниями с энергией £(к) в валентной зоне и Ес(к) в зоне проводимости (смотрите рис. 13.3).
•/с и/у(Иу) есть функции Ферми—Дирака, описывающие заселенность состояний, связанных оптическими переходами, т. е. удовлетворяющих (7.255, в):
1
1 + ехр |
ЕГс
КТ
(13.7а)
Ес(/гу)=Ее+ЩИу-Ее)
Л(М=- |
ЕЛИу)-Ег,
КТ
Ef(hv)=-?t(hv-Eg)
Как правило, в случае электролюминесцентных диодов концентрация избыточных носителей достаточна мала, что оправдывает аппроксимацию функций Ферми-Дирака функциями Больцмана, что соответствует тому, что квазиуровни Ферми далеки от экстремумов зон. Как было показано в главе 7, в этом случае спектральная зависимость скорости спонтанной эмиссии может быть существенно упрощена, что дает (смотрите 7.52а):
R^(hv)= - Е,)1'1 |
|
|
||
|
|||
Здесь Kspon определяется формулой:
А Е? - Е0 |
-ехр |
КТ |
(2 т, У К%гТ R |
|
|
При этом АЕр есть энергетический зазор между квазиуровнями Ферми AEF = EFc — EFv. Очевидно, что по мере возрастания концентрации избыточных носителей п множители exp (EJkT) и exp (—EJkT) также возрастают, приводя к тому, что спектральная зависимость скорости Rspon(hv) пропорциональна я2, что и неудивительно. Форма спектральной линии спонтанной эмиссии определяется (13.8). Тривиальным образом можно показать, что максимальная интенсивность излучения достигается при hvpcak = Eg + АТ/2, при этом полуширина линии составляет A hv~ 1,8 кТ (смотрите рис. 13.4).
Поскольку Лрсак и hvptak связаны соотношением Лреак(мкм) = l,24//zvpeak (эВ), мы сразу находим, что на шкале длин волн полуширина А Л связана с пиковой длиной волны следующим выражением:
(13.10) |
АЛ = 1,45 Л^кТ
На рисунке 13.5 представлены спектральные распределения плотности излучения СИД, изготовленных на основе различных полупроводников. Как и предсказывается формулой (13.10), спектры излучения становятся уже (на шкале длин волн) по мере изменения энергии излучения от инфракрасного к ультрафиолетовому диапазону спектра.
Hv/kT Рис. 13.4. Спектральное распределение скорости спонтанной эмиссии. Полуширина спектра составляет величину порядка 1,8кТ. |
3 18 /7у(эВ) Рис. 13.5. Спектральные распределения излучения СИД на основе различных полупроводников. Спектральная полуширина пропорциональна Л2сак, как это предсказывается формулой (13.10). (Из книги S. Sze: Physics of Semiconductor Devices, copyright © Wiley Interscience, New York (1981). |