Оценка выявляемое™ дефектов типа нарушения сплошности различными видами НКиД
>5 |
« S |
'=Е ZQ |
S Ж 5 *з к s |
)S О |
||||
X X |
X о |
Со О |
ZQ |
III |
Xs О |
S U: |
О |
|
Объекты контроля |
0 1 Ев S § О* |
<D X S Ё >> < |
* І А. X S CD |
X И As |
« S e G 2 Й S ? S E = 3 Й О u |
CO О t=l С <L> f- |
О <D T S Ё О |
X С: о CQ О S 9 CU |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
Нес] |
>ерромагнитные материалы |
|||||||
Проволока диаметром, мм: |
||||||||
0,01...1 |
0 |
5 |
5 |
0 |
0 |
3 |
4 |
0 |
1...14 |
4 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
Прутки диаметром, мм: |
||||||||
3...40 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
30...100 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
Трубы диаметром, мм: |
||||||||
3...30 |
4 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
30...156 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
156... 1000 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
0 |
4 |
0 |
Листы, плиты толщиной, мм: |
||||||||
0,1...1 |
4 |
5 |
5 |
0 |
4 |
3 |
4 |
3 |
0,1...3,9 |
5 |
5 |
5 |
0 |
4 |
0 |
4 |
0 |
4... 10 и более |
5 |
5 |
5 |
0 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Сортовой прокат |
5 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Отливки |
5 |
4 |
3 |
0 |
5 |
0 |
4 |
0 |
Металлургические заготовки (слябы, слитки) |
5 |
4 |
0 |
0 |
5 |
3 |
4 |
0 |
Ферромагнитные материалы |
||||||||
Проволока диаметром 5 мм |
4 |
5 |
5 |
5 |
0 |
3 |
4 |
0 |
Прутки диаметром, мм: |
||||||||
3... 40 |
5 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
4 |
0 |
30... 100 |
5 |
5 |
5 |
5 |
0 |
0 |
5 |
0 |
Трубы сварные диаметром, мм: |
||||||||
3...30 |
4 |
5 |
5 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
30...156 |
5 |
5 |
5 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
156... 1000 |
5 |
5 |
5 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Листы, плиты толщиной, мм: |
||||||||
0,1...1 |
5 |
5 |
5 |
5 |
4 |
3 |
4 |
3 |
0,1...3,9 |
5 |
5 |
5 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
4... 10 и более |
5 |
5 |
5 |
4 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Сортовой прокат |
5 |
5 |
4 |
5 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Отливки |
5 |
4 |
0 |
4 |
4 |
0 |
4 |
0 |
Металлургические заготовки (слябы, слитки) |
5 |
4 |
4 |
3 |
4 |
4 |
4 |
0 |
Диэлектрики |
||||||||
Резина |
5 |
4 |
0 |
0 |
4 |
0 |
4 |
5 |
Керамика, порошковый материал |
5 |
4 |
0 |
0 |
4 |
3 |
4 |
5 |
Бетон, железобетон |
5 |
3 |
0 |
0 |
4 |
0 |
4 |
5 |
Монокристаллы |
3 |
4 |
0 |
0 |
0 |
5 |
4 |
5 |
Многослойные материалы |
4 |
5 |
0 |
0 |
0 |
3 |
0 |
5 |
Стекло |
3 |
4 |
0 |
0 |
0 |
3 |
5 |
3 |
Стеклопластики |
3 |
4 |
0 |
0 |
5 |
5 |
5 |
5 |
Продолжение табл. 1.3.3
8 Соединения
|
Примечание. Оценка вида НКиД: 5 - отличная; 4 - хорошая; 3 - удовлетворительная; 0 - неудовлетворительная. |
Останавливают операцию контроля и сигнализируют о возникшей неисправности. Наибольший экономический эффект достигается, когда эти средства непосредственно управляют технологическим процессом.
Такие методы, как радиографический, рентгенотелевизионный, магнитопорошковый, капиллярный и другие, результаты которых оператор оценивает визуально по изображению дефекта, автоматизированы не полностью. Создание автоматизированных систем обработки изображения (АСОИЗ) для указанных методов - наиболее актуальная задача.
Наиболее трудоемкими и наименее надежными механизмами автоматизированных СНК, как правило, являются устройства сканирования. В процессе сканирования должен поддерживаться постоянный зазор между преобразователем, источником поля и контролируемым изделием. Движение преобразователя и контролируемого изделия относительно друг друга может быть поступательным, вращательным, сложным возвратно-поступательным и др. Особенностью систем сканирования СНК и диагностики является высокая точность их изготовления. Они могут быть электронными, электромеханическими, гидравлическими, пневматическими и др. Дополнительно к механическим устройствам стабилизации зазора применяют электронные измерительные устройства, которые сигнализируют о выходе зазора за пределы допустимых значений и регулируют коэффициент усиления измерительного тракта в функции величины зазора, поддерживая неизменной чувствительность прибора к основному контролируемому параметру.
Различают многоэлементные и одноэлементные системы сканирования. Многоэлементные системы состоят из ряда неподвижных входных преобразователей, расположенных относительно друг друга линейно, матрично и т. д. Информация с многоэлементной входной системы снимается путем предварительного усиления сигнала каждого преобразователя и последующего коммутирования всех входных сигналов электронным коммутатором для дальнейшей вторичной обработки. Подобного рода системы входных преобразователей отличаются большой скоростью получения информации с определенной площади контролируемого объекта. В ряде случаев они также требуют перемещения относительно контролируемого объекта. Недостатками многоэлементных систем являются их громоздкость, пониженные чувствительность и разрешающая способность при обнаружении дефектов типа нарушения сплошности. Объясняется это тем, что дефекты нарушения сплошности имеют малые размеры (от микрометров до миллиметров) и для получения необходимой информации с помощью ряда неподвижных преобразователей требуется, чтобы размеры преобразователя или зона его контроля была значительно меньше, чем размеры дефекта. Для дефектоскопического контроля это часто трудноосуществимая задача.
Более простыми, надежными и более чувствительными являются одноэлементные системы сканирования. Они содержат один или несколько (до десяти) преобразователей, перемещающихся относительно контролируемой поверхности объекта. Каждый преобразователь контролирует определенную часть поверхности объекта. Размеры и параметры преобразователя выбирают так, чтобы получить максимальные чувствительность и разрешающую способность контроля. За счет перемещения преобразователя информация о дефекте является непрерывной функцией в отличие от дискретных ее значений, получаемых от неподвижных рядом расположенных преобразователей. Таким образом, снимается максимальный объем информации о качестве контролируемой поверхности. Недостатком одноэлементных систем является их малая производительность. Поэтому в промышленности при высокопроизводительном контроле все шире используют многоканальные приборы и системы сканирования.
В качестве главного элемента систем сканирования автоматизированных СНК и диагностики могут использоваться роботы-манипуляторы. На этой основе создаются разнообразные роботизированные технологические комплексы неразрушающего контроля (РТК НКиД). В основу создания РТК НКиД положена совокупность приборов неразрушающего контроля, промышленных роботов, выполняющих функции перемещения датчика прибора относительно объекта контроля и разбраковки изделий, а также специализированных устройств связи прибора, робота и объекта контроля между собой.
В качестве средств представления информации широкое применение получили вычислительные устройства, которые позволяют строить двух - и трехмерные изображения объекта контроля в требуемом масштабе, выявить на изображении точки локализации дефектов и обозначить яркостным или цветным способом участки с наибольшими градиентами полей и излучений, характеризующие наличие дефектов или напряженные состояния. Эти устройства позволяют строить сечения объектов, наносить цифровые данные о размерах и локализации дефектов, а также изоконтуры - эквипотенциальные линии вторичных полей, характеризующих дефекты. Они обеспечивают файловую систему хранения результатов.
При использовании полутоновых дисплеев появляется возможность совместно с изображением объекта строить эпюры распределения потока сил, напряжений, нагрузок, температуры и т. п.