ЛАКОКРАСОЧНЫЕ МАТЕРИ АЛ Ы И ПОКРЫТИЯ

Резонансные методы при вынужденных колебаниях

Резонансная техника заключается в приложении к окрашен­ному образцу синусоидальной силы и измерении амплитуды про­исходящих изменений как функции частоты. Резонансная частота определяется как частота, соответствующая максимальной («пи­ковой») амплитуде. Путем измерения этого параметра и «шири­ны пика» можно вычислить модуль. «Ширина пика» определяется как диапазон частот, за пределами которого амплитуда имеет значение, равное пиковой амплитуде, деленной на 2. Иногда воз­можно определить более высокочастотные резонансные пики, возникающие ввиду протекания более сложного типа деформа­ции, но они обычно меньше по пиковой амплитуде, чем при нор­мальной деформации. Метод прост для использования. Образец свободной или' адгезированной пленки прочно закрепляется в вибраторе "одним концом и подвергается вибрации. Амплитуда ко­лебаний свободного конца может быть изменена микроскопически. Необходимо прочное закрепление образца,, иначе может возник­нуть псевдор. езонанс. В другой разновидности метода может быть использована окрашенная тонкая полоска стали (например. брит­венное лезвие), которая подвешивается на тонкой нити, а колеба­ния возбуждаются с помощью электромагнита.

Все эти методы имеют общий недостаток. Ёсли покрытие не­достаточно твердое (диссипация энергии мала), трудно иденти­фицировать пик резонансной частоты с точностью,, соответствую­щей свободной пленке (эта частота, не будет сильно о, хл^чаться от ее значений для чистого субстрата).

Так же как и для маятникового метода, ош^здн^рпо - выше, данный метод основан на использовании одной любой

Фактор, изменяющий модуль эластичности по^р:Ы[ТИ%: например температура или степень отверждения, будет сдв$^ітЬ,,р§зонанс- ную частоту. Толщина оказывает несколько влияние

Для свободных пленок, так как она входит в ура-внение в виде квадратного члена; однако для армированных образцов уравне­ния более сложны и включают линейные, квадратичные и куби­ческие члены в соотношениях толщин покрытия и субстрата [36, 37). Для большей точности теория также должна учитывать адгезию покрытия к подложке.